荷兰Delmic品牌光谱成像系统集成案例

荷兰Delmic品牌光谱成像系统集成案例

纳米技术领域：

Delmic与荷兰Twente大学合作，开发了基于SPARC系统的扫描透射电子显微镜（STEM）。这个系统可以获得样品的高分辨率结构信息，并且可以进行元素分析和能谱成像。这个系统在纳米科学和纳米技术领域有着广泛的应用，例如人工晶体、新型储能材料等。

工业领域：

Delmic的SPARC系统被广泛应用于工业质量控制和故障分析中。例如，荷兰ASML公司使用SPARC系统对光刻机的微纳米结构进行检测和优化，提高了光刻机的生产效率和产品质量。