光学领域中的法国Cameca品牌分析仪器

光学领域中的法国Cameca品牌分析仪器

光学器件测试

Cameca的原子力显微镜（AFM）可以用于光学器件的测试和表征。它可以测量器件的表面粗糙度、形貌、光学特性等参数，帮助光学器件制造商评估器件的性能，并进行优化和改进。

光学元件成像

Cameca的离子探针显微镜（SIMS）可以用于光学元件的成像和表征。它可以通过分析元件中的元素和同位素组成，提供高分辨率的化学成像结果，帮助研究人员了解元件的结构和组成，并优化光学元件的设计和制备过程。